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Placa de teste USB Type-C fêmea de dupla face

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Em Stock (18 unidades) Entrega imediata
Placa de teste USB Type-C fêmea de dupla face Placa de teste USB Type-C fêmea de dupla face Placa de teste USB Type-C fêmea de dupla face
€ 3,59
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Esta placa de teste USB Type-C fêmea de dupla face é uma ferramenta essencial para o diagnóstico, teste e prototipagem de interfaces USB-C de alto desempenho.

Concebida com uma configuração de 24 pinos, permite o acesso total a todas as linhas de sinal do conector, incluindo dados de alta velocidade e entrega de potência (Power Delivery).

A sua construção de dupla face com pinos de saída dispostos de forma clara facilita a medição com multímetros ou osciloscópios, tornando-a ideal para engenheiros e técnicos que necessitam de validar a integridade de sinais e a conformidade de cabos e dispositivos USB Type-C.



ESPECIFICAÇÕES

• Parâmetros de Interface
  - Tipo de Conector
    · USB Type-C Fêmea (Socket)
  - Configuração de Pinos
    · 24 Pinos (Full Pinout)
• Parâmetros Físicos
  - Tipo de Placa
    · Placa de teste "Breakout" de dupla face
  - Espaçamento de Pinos
    · Passo padrão para integração em circuitos
• Desempenho e Materiais
  - Material de Base
    · Fibra de vidro FR-4
  - Funcionalidades Técnicas
    · Suporte para USB 3.1, PD e transmissão de dados de alta velocidade


NOTAS

◆ Mapeamento de 24 Pinos: Devido à alta densidade de pinos, tem extremo cuidado ao efetuar medições ou soldaduras para evitar curtos-circuitos entre os contactos adjacentes, o que pode danificar o equipamento de teste ou o dispositivo ligado.

◆ Suporte Power Delivery (PD): Esta placa permite a passagem de tensões elevadas (até 20V em perfis PD). Garante que os componentes ligados aos pinos VBUS suportam a tensão negociada pelo controlador USB-C.

◆ Reversibilidade: Como se trata de uma placa de dupla face projetada para testes, verifica sempre se o sinal que estás a medir corresponde ao lado correto da placa, especialmente nas linhas CC (Configuration Channel) e diferenciais de dados.

◆ Estabilidade de Sinal: Para testes de dados de alta velocidade, utiliza cabos de ligação o mais curtos possível a partir da placa de teste para minimizar a introdução de ruído e garantir leituras precisas.